今天的X射線熒光技術(shù)，依然是無(wú)損檢測(cè)的方法

來(lái)源：

作者：Steve Wichelecki

主要內(nèi)容：一百多年前，當(dāng)放射線照相術(shù)誕生時(shí)，人們就開(kāi)始使用X射線熒光進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。今天，放射線照相術(shù)用于檢測(cè)材料鍍層厚度、物理缺陷或其他特征。X射線熒光技術(shù)，作為無(wú)損檢測(cè)的另一種方法，用來(lái)鑒定分析合金成分。作者在文中介紹了工業(yè)中主要使用的4種放射線照相術(shù)，并列舉介紹了包括牛津儀器在內(nèi)的幾家提供X射線熒光無(wú)損檢測(cè)儀的公司。牛津儀器公司推出的配有真空泵的手持式XRF分析儀X-MET3000TXV+，可以用來(lái)分析輕金屬合金，如飛機(jī)部件中鋁合金里的硅(Si)和鎂(Mg)、鈦合金里的鋁(Al)。

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